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商品编号:55193
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OLYMPUS probe 原子力显微镜探针

价    格:询价

产    地:日本更新时间:2019/7/15 13:41:34

品    牌:奥林巴斯型    号:probe

状    态:正常点击量:6071

18253171090
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山东博科再生医学有限公司

联 系 人:李经理

电     话:18253171090

传     真:

等     级: (第 4年)

性     质:生产型,贸易型,

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奥林巴斯四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的最前端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。
 

 

OMCL测微悬臂系列原子力显微镜探针

 

 
OLYMPUS Microcantilever

Product Line and main feature

(update: Feb. 22, 2010)

For detail information, click the probe image (icon) in the left.
    Model name Lever mechanical feature Material
    Small quantity
unit
Large
quantity
unit
 
Spring
constant
[N/m]
(typ.)
Resonance
frequency
[kHz]
(typ.)
Tip
Lever
Chip
ReflexCoat
TipsideCoat
 

Silicon Cantilever with a Carbon Nano Fiber Probe, AC modo AFM in air, rodlike-shaped CNF Probe, Pre-separated chip OMCL-
AC160FS-Q2
(qty. 3)
- 42N/m 300kHz Silicon
Silicon
Carbon_Nano_Fiber
Al
non
 
 

Silicon Cantilever with a Carbon Nano Fiber Probe, AC modo AFM in air, rodlike-shaped CNF Probe, Pre-separated chip OMCL-
AC160FS-B2
(qty. 18)
- 42N/m 300kHz Silicon
Silicon
Carbon_Nano_Fiber
Al
non
 
 

Silicon Cantilever with a Carbon Nano Fiber Probe, AC modo AFM in air, rodlike-shaped CNF Probe, Pre-separated chip OMCL-
AC240FS-Q2
(qty. 3)
- 2N/m 70kHz Silicon
Silicon
Carbon_Nano_Fiber
Al
non
 
 

Silicon Cantilever with a Carbon Nano Fiber Probe, AC modo AFM in air, rodlike-shaped CNF Probe, Pre-separated chip OMCL-
AC160FS-B2
(qty. 18)
- 2N/m 70kHz Silicon
Silicon
Carbon_Nano_Fiber
Al
non
 
 

Stiffer Middle:
Silicon probe, AC modo AFM in air (Higfh resolution), chip with parallel side wall. (Pre-separated)
OMCL-
AC160TS-C3
(qty. 24)
OMCL-
AC160TS-R3
(qty. 100)
26N/m 300kHz Silicon
Silicon
Silicon
Al
non
 
 

Stiffer Middle:
Silicon probe, AC modo AFM in air (Higfh resolution), chip with parallel side wall. (Pre-separated)
OMCL-
AC160TN-C3
(qty. 24)
OMCL-
AC160TN-R3
(qty. 100)
26N/m 300kHz Silicon
Silicon
Silicon
non
non
 
 

Medium:
Silicon probe, AC modo AFM in air (Higfh resolution), chip with parallel side wall. (Pre-separated)
OMCL-
AC200TS-C3
(qty. 24)
OMCL-
AC200TS-R3
(qty. 100)
9N/m 150kHz Silicon
Silicon
Silicon
Al
non
 
 

Medium:
Silicon probe, AC modo AFM in air (Higfh resolution), chip with parallel side wall. (Pre-separated)
OMCL-
AC200TN-C3
(qty. 24)
OMCL-
AC200TN-R3
(qty. 100)
9N/m 150kHz Silicon
Silicon
Silicon
non
non
 
 
BioLever:
Less thermal-noise cantilever and Extremely soft cantilever for Force curve measurement
BL-
RC150VB-C1
(qty. 24 chips)
BL-
RC150VB-HW
(qty. 210 chips)
0.030
0.006
37
13
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
Au/Cr
 
 
Platinum-deposited Silicon probe for electric measurements such as EFM and KPM OMCL-
AC240TM-B2
(qty. 18 chips)
OMCL-
AC240TM-W2
(qty. 375 chips)
2
 
70
 
Silicon
Silicon
Silicon
Al
Pt
 
 
Standard Silicon probe for AC mode AFM in air OMCL-
AC160TS-C2
(qty. 24 chips)
OMCL-
AC160TS-W2
(qty. 375 chips)
42
 
300
 
Silicon
Silicon
Silicon
Al
non
 
 
High aspect ratio Silicon probe for AC mode AFM OMCL-
AC160BN-A2
(qty. 12 chips)
 
OMCL-
AC160BN-W2
(qty. 375 chips)
Order-received production
42
 
300
 
Silicon
Silicon
Silicon
non
non
 
 
Silicon probe for AC mode AFM imaging of polymer film, biology sample DNA etc

Silicon probe for Force modulation measurement
OMCL-
AC240TS-C2
(qty. 24 chips)
OMCL-
AC240TS-W2
(qty. 375 chips)
2
 
70
 
Silicon
Silicon
Silicon
Al
non
 
 
Low wear Silicon nitride probe for AC mode AFM in air OMCL-HA100WS-1
(qty. 34 chips)
OMCL-HA100WS-HW
(qty. 245 chips)
15
 
160
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
non
 
 
Standard probe for AC mode AFM in Water

Soft cantilever probe for Contact mode AFM
OMCL-TR400PSA-1
(qty. 34 chips)
OMCL-TR400PSAHW
(qty. 245 chips)
0.08
0.02
 
34
11
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
non
 
 
Standard probe for Contact mode AFM OMCL-TR800PSA-1
(qty. 34 chips)
OMCL-TR800PSA-W
(qty. 490 chips)
0.57
0.15
 
73
24
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
non
 
 
Standard probe for Contact mode LFM/AFM OMCL-RC800PSA-1
(qty. 34 chips)
OMCL-RC800PSA-W
(qty. 490 chips)
0.05
0.10
0.39
0.76
 
18
19
69
71
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
non
 
 
Tip-side gold coated Soft cantilever probe for Contact mode AFM OMCL-TR400PB-1
(qty. 34 chips)
Not available 0.09
0.02
 
32
10
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
Au/Cr
 
 
Tip-side gold coated probe for Contact mode AFM OMCL-TR800PB-1
(qty. 34 chips)
Not available
 
0.61
0.16
 
68
22
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
Au/Cr
 
 
Tip-side gold coated probe for contact mode LFM/AFM OMCL-RC800PB-1
(qty. 34 chips)
Not available
 
0.06
0.11
0.42
0.82
 
17
17
64
66
 
SiN
SiN
PyrexGlass
Au/Cr
Au/Cr
 

通过准确可靠的俯视观察法,确保探针的最佳清晰度

    奥林巴斯四面体探针测微悬臂的特点,在于探针位于测微悬臂的最前端,由此易于清楚确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,此产品备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针可供选择。

AC(动态)模式AFM(原子力显微镜)的标准硅探针
(OMCL-AC160TS,OMCL-AC240TS)
    奥林巴斯四面体探针测微悬臂(OMCL系列)的主要特点在于测微悬臂的最前端。这一特点使使用都非常容易的确认探针与样品的位置关系,从而迅速而准确地对准测定位置。为满足客户多种特殊需求,我们备有标准型、铂膜型和四面刃型三种类型的硅探针供客户选择。

 

 

 

 

 

 

 

铂膜型硅探针(OMCL-AC240TM)

    本新新产品在探针表面镀有一层铂膜。此型探针可用于EFM(电力显微镜),SCM(扫描电容显微镜)等显微大发3d。适用于测定试样的电气特性。

 

 

 

 

 

 

●四面刃型硅探针(OMCL-AC160BN)  
 
    本新探针针尖锐利、正如刀刃,长宽比为7:1,半顶角6度或以下(从针尖端部起2um)。适用于测定集成电路电极结构和光盘槽纹等凹坑形状,还能真实地再现薄膜表面的颗粒。而且通过独特的半导体批量生产工艺,确保了优异的性能价格比。

 

 

 

 

 

 

 

性能保持稳定、经久耐用的氮化硅探针  
    奥林巴斯制造的氮化硅探针,以其著名的耐久性能最大限度地减少了因磨耗引起的原子力显微镜数据随使用时间的变化。材料的特性选择减少了针尖的磨耗,使其稳定性能得以长期发挥。除了最佳的外形设计,奥林巴斯以独家大发3d对针尖进行了进一步的锐化处理。

●动态模式原子力显微镜专用低磨耗探针(OMCL-HA100WS) 
    本氮化硅测微悬臂用于动态模式,其楔形针尖经过锐化处理,因低磨耗设计而延长了使用年限。探针前端采用化学计量比的氮化硅,厚度为0.2um,具有优异的抗磨耗性能。有效探针长度为0.2~0.4um,最适于使用原子力显微镜对半导体薄膜等进行例行检测。测定过程可使用尖锐化的楔形针尖两个凸起部分(称为双针尖)中的一个。

 

 

 

 

 

 

 

 

●动态模式原子力显微镜(水中)专用氮化硅探针(OMCL-TR400PSA)  
        本测微悬臂长度100um,共振频率经为7kHz,是动态模式原子力显微镜水中测定试样的理想工具,尤其是以图像显示仅在水中才出现活性的生物试样时,成为更不可缺少的工具。奥林巴斯以独特氧锐化大发3d对棱锥体探针进行尖锐化处理,使其性能稳定而持久。

 

 

 

 

 

 

 

●接触模式原子力显微镜专用标准氮化硅探针(OMCL-TR400PSA,OMCL-TR800PSA)

      本氮化硅锥体探针因其柔软而且磨耗小的特性,广泛使用于接触模式原子力显微镜测定。该产品已有大约十年的销售历史,并且已成为测微悬臂设计的标准。

 

 

 

 

 

●LFM(水平力显微镜)专用型(OMCL-RC800PSA) 

    为满足用户需求的不同,本型产品由弹性刚度不同的4种长方形测微悬臂组成。  


●镀金表面探针型(OMCL-TR400PB,OMCL-TR800PB,OMCL-RC800PB)  
    用于接触模式的测微悬臂,测微悬臂两面均为镀金表面。通常作为原子力显微镜探针使用,亦可用于测定生物试样的粘合力。





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